PCT加速壽命老化試驗箱（外文名：Pressure Cooker Test），又稱PCT高壓加速老化試驗機(jī)，是一種用于模擬高溫、高濕及高壓環(huán)境的可靠性測試設(shè)備。該設(shè)備主要用于評估電子元器件、半導(dǎo)體封裝體等產(chǎn)品在嚴(yán)苛條件下的抗?jié)駳饽芰Α⒚芊庑阅芗凹铀倮匣瘔勖诵膽?yīng)用包括檢測濕氣滲透導(dǎo)致的斷路/短路故障、加速老化壽命試驗以及密封性能檢測 ，其應(yīng)用領(lǐng)域還包括國防、航天、汽車部件、電子配件。

其溫度范圍常見為100℃~135℃，最高可達(dá)143℃，濕度范圍為100%RH（飽和蒸汽），壓力范圍相對壓力為0.0kg/cm2~2.8kg/cm2，對應(yīng)絕對壓力1.0kg/cm2~3.0kg/cm2，安全壓力容量通常為4kg/cm2。控制精度方面，溫度控制精度為±0.5℃，溫度分布精度為±1.5℃，溫度解析精度為0.1℃。內(nèi)箱尺寸有多種型號，例如PCT-25內(nèi)箱尺寸為∮250×450D mm，PCT-35為∮350×450D或500D mm，PCT-45為∮550×550D mm。材質(zhì)方面，內(nèi)箱通常采用SUS304或SUS316耐寒耐熱不銹鋼板 ；外箱采用SECC鋼板或不銹鋼板，并經(jīng)過靜電噴塑處理。加壓時間從常壓升至2.0kg/cm2約需30分鐘。其他參數(shù)包括升溫時間約為30~60分鐘，溫度均勻度可達(dá)±0.5℃或更好，溫度波動度為±0.3℃。

PCT加速壽命老化試驗箱符合JESD22-A102、IEC 60068-2-5等相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝、汽車零部件、航空航天及新材料研發(fā)等領(lǐng)域。